指出下列叙述中的错误,并予以改正:“对材料AmBn的研究方法是:用X射线衍射仪器对材料进行含量及显微组织形貌的测定;用扫描电镜对材料进行物相分析,确定其晶体学参数;用透射电镜对材料界面、结合组态进行测试分析”。
发布日期:2020-12-11
试题解析
指出
提出论点看法。如:他指出,我们一定要为如期完成全书的编写任务而竭尽全力。
- 中文名
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指出
- 拼音
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zhǐchū
- 外文名
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indicate
- 注音
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ㄓㄧˇ ㄔㄨ
改正
[Put right;Correct] 改正错误,改正实际工作中存在的“攀比风”,纠正错误:~缺点ㄧ~错别字。
- 中文名
-
改正
- 解释
-
把错误的改为正确的
- 词性
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汉语词语
- 拼音
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gǎi zhèng
- 出自
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《汉书·谷永传》
正确答案:
X.射线衍射仪可以对材料进行物相分析,确定其晶体学参数,但无法对材料进行含量及显微组织形貌的测定;扫描电镜可以测定材料的显微组织形貌,但无法进行物相分析;透射电镜可以对材料的界面进行分析,但无法对材料的结合组态进行测试分析。
改正:对材料AmBn的研究方法是:用扫面电镜并配上能谱仪对材料进行含量及显微组织形貌的测定;用X射线衍射仪对材料进行物相分析,确定其晶体学参数;用透射电镜对材料界面进行测试分析;采用X射线光电子能谱分析法对材料的结合组态进行测试分析。
解析:
暂无解析
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